MDD穩(wěn)壓二極管（Zener Diode）作為電子電路中常見的電壓基準與保護元件，因其反向擊穿時能夠提供相對穩(wěn)定的電壓而被廣泛應用。然而，在實際使用過程中，穩(wěn)壓管并不是“永不失效”的器件，它也會出現(xiàn)開路、短路或參數(shù)漂移等問題。其中，開路失效是一種較為典型的失效模式，對電路功能影響很大。作為FAE，在現(xiàn)場支持客戶時，常常需要針對這種現(xiàn)象進行分析和解答。

一、什么是開路失效？

所謂開路失效，是指穩(wěn)壓二極管內(nèi)部PN結因熱擊穿、機械應力或長期過載導致內(nèi)部連接斷裂，表現(xiàn)為器件不再導通，相當于電路中該元件被移除。此時，穩(wěn)壓管失去了其應有的穩(wěn)壓或保護作用。

在電源基準電路中，開路會導致參考電壓消失，后級電路無法正常工作；

在過壓保護電路中，開路失效意味著無法再鉗位浪涌，負載將直接暴露于過高電壓下，風險更大。

二、導致開路失效的常見原因

過功率沖擊

當穩(wěn)壓管承受的功耗超過額定值時，芯片溫度急劇升高，金屬化層或焊點可能因熱應力斷裂，從而導致開路。這種情況多見于浪涌、雷擊或電路設計沒有預留足夠功耗裕量。

反復浪涌沖擊

雖然穩(wěn)壓二極管能吸收一定的瞬態(tài)能量，但它并非專門設計用于大能量浪涌（TVS管才適合此類應用）。反復受到浪涌作用，會使結區(qū)逐漸退化，最終形成開路失效。

焊接工藝不良

在生產(chǎn)裝配過程中，如果焊接溫度過高或焊點虛焊，也可能在使用中因熱循環(huán)或機械應力導致內(nèi)部開路。

長期工作在臨界條件

穩(wěn)壓管若長期在接近最大額定電流或功耗的條件下工作，會加速結區(qū)老化。隨著時間推移，其結構可能出現(xiàn)裂紋，最終導致開路。

三、開路失效的后果

穩(wěn)壓二極管一旦開路，往往會讓設計失去最后的“安全閥”。

在穩(wěn)壓電源電路中：輸出電壓不再穩(wěn)定，可能隨輸入波動，導致電路功能異常。

在保護電路中：負載直接面對過壓風險，輕則系統(tǒng)重啟，重則IC損壞。

在參考電路中：后級比較器或控制電路無法獲得穩(wěn)定基準，造成誤判或功能失效。

四、如何預防開路失效？

合理選型

確保穩(wěn)壓管的功率裕量在1.5倍以上，避免器件長時間高負載運行。

針對浪涌保護應用，應優(yōu)先選用專用的TVS管，而不是普通Zener。

電路設計優(yōu)化

串聯(lián)限流電阻必須設計合理，既要保證足夠的穩(wěn)壓電流，又要避免電流過大。

在電源入口處增加濾波和浪涌抑制元件，分擔穩(wěn)壓管壓力。

關注焊接和裝配

生產(chǎn)環(huán)節(jié)嚴格控制回流焊溫度曲線，避免虛焊、過熱。

對關鍵電路建議做高低溫循環(huán)試驗，提前發(fā)現(xiàn)潛在隱患。

失效模式評估

在可靠性設計中，工程師要認識到穩(wěn)壓管更常見的失效是開路，而不是短路。

對保護電路，可以考慮并聯(lián)多顆或加冗余設計，避免單點失效造成系統(tǒng)風險。

五、FAE常見解答要點

當客戶反饋“穩(wěn)壓管失效”時，F(xiàn)AE需要結合失效模式來判斷：

如果是開路 → 多半是過功率沖擊或焊接問題；

如果是短路 → 多見于嚴重浪涌瞬間擊穿；

如果是參數(shù)漂移 → 可能是長期過載或溫度應力引起。

對于開路問題，通常建議客戶重新評估功耗裕量、確認浪涌環(huán)境，并優(yōu)化PCB布局及焊接工藝。

MDD穩(wěn)壓二極管開路失效雖不如短路那樣直觀，但在保護類應用中卻更為危險，因為它意味著保護功能“悄悄失效”。作為FAE，在與客戶溝通時，既要讓其理解穩(wěn)壓管的工作極限，也要引導其合理使用TVS、LDO等更合適的器件。只有在設計階段就充分考慮失效模式，才能避免系統(tǒng)在關鍵時刻因一個小小的穩(wěn)壓管開路而導致嚴重后果。